-GD02 激光多功能光電測量綜合實驗儀
簡介
激光多功能光電測量綜合實驗儀用來儀表器具科學，計量測量試驗專業，自動控制專業以及物理專業等課程教學。其特別點是實驗內容新穎，功能多樣。經過實驗指導書提供的數十種實驗，能完成含有概括激光、散斑、衍射、光電、共焦、光纖、納米、圖像、偏振等多種先進測量試驗技術的實驗。

一、系統構成
儀表器具主要采用下列八部分系統構成：
1、激光散斑干涉系統
2、泰曼－格林干涉系統
3、激光衍射計量系統
4、激光共焦測量系統
5、納米測量光學系統
6、光學傅立葉變換及光信息處置整理系統
7、光纖傳感系統
8、幾何光學實驗系統
二、光電實驗臺硬件部分說明
專用復用光學平臺布置下列器件：激光器 、衰減器、定向孔、成像透鏡 、目鏡、可調光闌 、光電接收器 、導軌、直角棱鏡 、傅氏透鏡、五維調動架、光纖分束器 、光纖、位移反射鏡、位移分光鏡、反射鏡 、物鏡、準直透鏡、分光棱鏡、共焦顯微鏡、多功能試件夾及結合作業臺、外置式光纖傳感器 、內置式光纖傳感器 、光纖夾持器、帶壓電陶瓷的結合作業臺、衍射試件平臺、備用試件架等構成
三、光電處置整理與顯露
光電與計算機數值處置整理部分由圖所示。上述光信息經CMOS圖像系統變換成光電信號，再經模/數變換（A/D）形成數字信號，將此數字信號經USB連接口進入計算機數值作處置整理，完成實驗顯露及相應實驗的計算定量，在專用系統的實操下完成全部實驗。

系統使用與實操
激光多功能光電測量試驗實驗儀配套系統是基于WINDOWS實操系統的應用系統，為協作各實驗的順利完成，目前該系統包主要有兩部分構成：1. 激光多功能光電測量試驗系統實驗儀綜合系統（Csylaser）；2.干涉圖的條紋自動解析系統（Wave）。
四、儀表器具配備
1、儀表器具主機配備
實驗系統主要采用光學平臺、激光系統（He-Ne,波長635.8mm,功率（W）＞3mw）、多功能光學系統，CMOS圖像收集系統，光纖傳感系統構成。
2、主機配套
實驗系統必須與計算機數值及相應的外圍設備配套使用，實驗數值的實操以及實驗的圖形均在計算機數值上實行。計算機數值由用戶自行配備，實操系統隨實驗儀提供。
五、實驗項目
激光散斑測量試驗實驗
實驗一 激光散斑的性質及測量方法
實驗二 面內位移及離面位移的散斑測量
實驗三 速度及振動的散斑測量*
實驗四 散斑編碼及圖像處置整理方法*
實驗五 散斑形變測量
實驗六 應用泰曼－格林數字干涉的光學玻璃均勻性測量（新增）

2. 激光干涉測量
實驗七 數字干涉測量三維（3D）面形
實驗八 精密位移測量的干涉測量的方法
實驗九 數字干涉測量光學系統波差
實驗十 泰曼－格林干涉實驗
實驗十一 應用泰曼－格林數字干涉的光學玻璃均勻性測量
3. 激光衍射測量
實驗十二 狹縫縫寬的衍射精密測量
實驗十三 巴俾特原理檢驗 細絲直徑測量
實驗十四 變形的全場衍射測量
實驗十五 各種形狀的孔（圓形、正方形、矩形、三角形等）的夫瑯和費衍射
4. 激光共焦三維（3D）測量
實驗十六 共焦顯微鏡的測量原理及相關技術實驗
實驗十七 三維（3D）形貌的共焦測量
5. 納米測量系統及演示實驗
實驗十八 基于筆束激光干涉的納米測量原理實驗
實驗十九 位移的納米量級測量方法
實驗二十 微弱振動的納米測量*
6.光學傅立葉變換及光信息處置整理方法
實驗二十一 圖形的傅立葉變換及頻譜解析
實驗二十二傅立葉逆傅立葉變換及光學4F系統
實驗二十三光信息處置整理－高通濾波、低通濾波、帶通濾波
實驗二十四傅立葉逆傅立葉變換及光學4F系統

7. 光纖傳感技術
實驗二十三光纖單元技術：分束器、耦合器、光纖接頭、
實驗二十四SM光纖、PM光纖的原理和功能演示
實驗二十五光纖干涉傳感系統實驗
實驗二十六光纖馬赫－澤德系統干涉系統
實驗二十七光纖傳感－精密溫度（℃）測量
實驗二十八光纖傳感－精密壓力標定及測量
8. 幾何光學實驗
實驗二十九薄透鏡成像實驗
實驗三十 物距像距法、共軛法薄透鏡焦距測量